專利名稱：電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測設備，尤其涉及一種電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置。
背景技術(shù)：
電子內(nèi)窺鏡是采用CMOS成像技術(shù)，用于眼睛觀察無法直接目視到的物體的設備。 目前電子內(nèi)窺鏡常采用直管式，如圖1所示，探測頭3安裝在主機1的頂端，探測頭3與主 機1之間有軟管2連接，由45度側(cè)面鏡4觀察物體。該直管式電子內(nèi)窺鏡只能觀測前端或 側(cè)面的物體，而無法觀測到側(cè)后方的物體。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置。本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置，包括探測頭和轉(zhuǎn)盤，特點是所述探測頭套入蛇骨內(nèi)，所 述蛇骨尾部一圈沿周向每隔90度連接一根鋼絲，所述鋼絲的另一端均連接至轉(zhuǎn)盤。進一步地，上述的電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置，其中，所述探測頭與蛇骨焊接固定。本發(fā)明技術(shù)方案突出的實質(zhì)性特點和顯著的進步主要體現(xiàn)在本發(fā)明設計新穎，通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤可牽動探測頭，向一個方向彎曲170度，使用者只 要旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤，使探測頭向上下左右彎曲，從而完成360度旋轉(zhuǎn)?？稍讵M小空間處，方便插入 與取出。


下面結(jié)合附圖對本發(fā)明技術(shù)方案作進一步說明圖1 現(xiàn)有技術(shù)電子內(nèi)窺鏡的構(gòu)造示意圖；圖2 本發(fā)明電子內(nèi)窺鏡的構(gòu)造示意圖。圖中各附圖標記的含義見下表
權(quán)利要求
1.電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置，包括探測頭和轉(zhuǎn)盤，其特征在于所述探測頭套入蛇骨內(nèi)， 所述蛇骨尾部一圈沿周向每隔90度連接一根鋼絲，所述鋼絲的另一端均連接至轉(zhuǎn)盤。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置，其特征在于所述探測頭與蛇骨焊 接固定。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置，包括探測頭和轉(zhuǎn)盤，探測頭套入蛇骨內(nèi)，蛇骨尾部一圈沿周向每隔90度連接一根鋼絲，鋼絲的另一端均連接至轉(zhuǎn)盤。通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤可牽動探測頭，向一個方向彎曲170度，使用者只要旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤，使探測頭向上下左右彎曲，從而完成360度旋轉(zhuǎn)。
文檔編號A61B1/00GK102100516SQ201010560148
公開日2011年6月22日 申請日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月25日
發(fā)明者沈趙勇 申請人:蘇州工業(yè)園區(qū)廣福汽保機電設備有限公司